Statistische Mustererkennung und wissensbasierte Bildanalyse

  • Typ: Vorlesung (V)
  • Lehrstuhl: KIT-Fakultäten - KIT-Fakultät für Bauingenieur-, Geo- und Umweltwissenschaften
  • Semester: SS 2021
  • Zeit: 14.04.2021
    10:00 - 11:30 wöchentlich


    14.04.2021
    12:00 - 13:30 wöchentlich

    21.04.2021
    10:00 - 11:30 wöchentlich

    21.04.2021
    12:00 - 13:30 wöchentlich

    28.04.2021
    10:00 - 11:30 wöchentlich

    28.04.2021
    12:00 - 13:30 wöchentlich

    05.05.2021
    10:00 - 11:30 wöchentlich

    05.05.2021
    12:00 - 13:30 wöchentlich

    12.05.2021
    10:00 - 11:30 wöchentlich

    12.05.2021
    12:00 - 13:30 wöchentlich

    19.05.2021
    10:00 - 11:30 wöchentlich

    19.05.2021
    12:00 - 13:30 wöchentlich

    02.06.2021
    10:00 - 11:30 wöchentlich

    02.06.2021
    12:00 - 13:30 wöchentlich

    09.06.2021
    10:00 - 11:30 wöchentlich

    09.06.2021
    12:00 - 13:30 wöchentlich

    16.06.2021
    10:00 - 11:30 wöchentlich

    16.06.2021
    12:00 - 13:30 wöchentlich

    23.06.2021
    10:00 - 11:30 wöchentlich

    23.06.2021
    12:00 - 13:30 wöchentlich

    30.06.2021
    10:00 - 11:30 wöchentlich

    30.06.2021
    12:00 - 13:30 wöchentlich

    07.07.2021
    10:00 - 11:30 wöchentlich

    07.07.2021
    12:00 - 13:30 wöchentlich

    14.07.2021
    10:00 - 11:30 wöchentlich

    14.07.2021
    12:00 - 13:30 wöchentlich

    21.07.2021
    10:00 - 11:30 wöchentlich

    21.07.2021
    12:00 - 13:30 wöchentlich
  • Dozent: Prof. Dr.-Ing. Stefan Hinz
  • SWS: 2
  • LVNr.: 6043201
  • Hinweis: Online
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Organisatorisches

2. Semesterhälfte