Statistische Mustererkennung und wissensbasierte Bildanalyse
- Typ: Lecture (V)
- Lehrstuhl: KIT-Fakultäten - KIT-Fakultät für Bauingenieur-, Geo- und Umweltwissenschaften
- Semester: SS 2022
-
Zeit:
We 2022-06-15
09:45 - 11:15, weekly
20.40 Jordan Hörsaal
20.40 Architekturgebäude
We 2022-06-15
11:30 - 13:00, weekly
20.40 Haid-Hörsaal
20.40 Architekturgebäude
We 2022-06-22
09:45 - 11:15, weekly
20.40 Jordan Hörsaal
20.40 Architekturgebäude
We 2022-06-22
11:30 - 13:00, weekly
20.40 Haid-Hörsaal
20.40 Architekturgebäude
We 2022-06-29
09:45 - 11:15, weekly
20.40 Jordan Hörsaal
20.40 Architekturgebäude
We 2022-06-29
11:30 - 13:00, weekly
20.40 Haid-Hörsaal
20.40 Architekturgebäude
We 2022-07-06
09:45 - 11:15, weekly
20.40 Jordan Hörsaal
20.40 Architekturgebäude
We 2022-07-06
11:30 - 13:00, weekly
20.40 Haid-Hörsaal
20.40 Architekturgebäude
We 2022-07-13
09:45 - 11:15, weekly
20.40 Jordan Hörsaal
20.40 Architekturgebäude
We 2022-07-13
11:30 - 13:00, weekly
20.40 Haid-Hörsaal
20.40 Architekturgebäude
We 2022-07-20
09:45 - 11:15, weekly
20.40 Jordan Hörsaal
20.40 Architekturgebäude
We 2022-07-20
11:30 - 13:00, weekly
20.40 Haid-Hörsaal
20.40 Architekturgebäude
We 2022-07-27
09:45 - 11:15, weekly
20.40 Jordan Hörsaal
20.40 Architekturgebäude
We 2022-07-27
11:30 - 13:00, weekly
20.40 Haid-Hörsaal
20.40 Architekturgebäude
- Dozent: Prof. Dr.-Ing. Stefan Hinz
- SWS: 2
- LVNr.: 6043201
- Hinweis: On-Site
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