Statistische Mustererkennung und wissensbasierte Bildanalyse
- Typ: Lecture (V)
- Lehrstuhl: KIT-Fakultäten - KIT-Fakultät für Bauingenieur-, Geo- und Umweltwissenschaften
- Semester: SS 2023
-
Zeit:
We 2023-06-07
09:45 - 11:15, weekly
20.40 Jordan Hörsaal
20.40 Architekturgebäude
We 2023-06-07
11:30 - 13:00, weekly
20.40 Haid-Hörsaal
20.40 Architekturgebäude
We 2023-06-14
09:45 - 11:15, weekly
20.40 Jordan Hörsaal
20.40 Architekturgebäude
We 2023-06-14
11:30 - 13:00, weekly
20.40 Haid-Hörsaal
20.40 Architekturgebäude
We 2023-06-21
09:45 - 11:15, weekly
20.40 Jordan Hörsaal
20.40 Architekturgebäude
We 2023-06-21
11:30 - 13:00, weekly
20.40 Haid-Hörsaal
20.40 Architekturgebäude
We 2023-06-28
09:45 - 11:15, weekly
20.40 Jordan Hörsaal
20.40 Architekturgebäude
We 2023-06-28
11:30 - 13:00, weekly
20.40 Haid-Hörsaal
20.40 Architekturgebäude
We 2023-07-05
09:45 - 11:15, weekly
20.40 Jordan Hörsaal
20.40 Architekturgebäude
We 2023-07-05
11:30 - 13:00, weekly
20.40 Haid-Hörsaal
20.40 Architekturgebäude
We 2023-07-12
09:45 - 11:15, weekly
20.40 Jordan Hörsaal
20.40 Architekturgebäude
We 2023-07-12
11:30 - 13:00, weekly
20.40 Haid-Hörsaal
20.40 Architekturgebäude
We 2023-07-19
09:45 - 11:15, weekly
20.40 Jordan Hörsaal
20.40 Architekturgebäude
We 2023-07-19
11:30 - 13:00, weekly
20.40 Haid-Hörsaal
20.40 Architekturgebäude
We 2023-07-26
09:45 - 11:15, weekly
20.40 Jordan Hörsaal
20.40 Architekturgebäude
We 2023-07-26
11:30 - 13:00, weekly
20.40 Haid-Hörsaal
20.40 Architekturgebäude
- Dozent: Prof. Dr.-Ing. Stefan Hinz
- SWS: 2
- LVNr.: 6043201
- Hinweis: On-Site
Links
| Organisational issues | 2. Semesterhälfte |